专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光源检测装置及光源检测方法-CN202210423221.4在审
  • 周正;范会林 - 深圳市汇投智控科技有限公司
  • 2022-04-21 - 2022-07-29 - G01J1/42
  • 本发明涉及一种光源检测装置和光源检测方法,其中光源检测装置包括底座、检测模块、夹持模块和通讯模块。被测光源安装在夹持模块上,安装有被测光源的夹持模块安装在检测光源上,被测光源能够发射光束,光束的一部分被二氧化碳气体吸收,剩余的光束能够照射至检测模块内,检测模块将剩余的光束接收并转换为电信号并处理,处理后的电信号再被通讯模块输出表征为被测光源的光照度测量值来判定光源的质量好坏,使得上述光源检测方法不因光源的工作方式为间歇工作方式而测量困难,测量方法简便,并可进行多次反复测量,用户在测量时不受人为主观因素影响,测量结果稳定、准确且误差小,方便用户测量与记录。
  • 光源检测装置方法
  • [实用新型]检测光源结构与检测光源装置-CN202121433340.5有效
  • 杨舜杰 - 新耀光科技有限公司
  • 2021-06-25 - 2022-01-07 - F21S8/08
  • 本实用新型公开一种检测光源结构与检测光源装置,为一种可调整发光体的光线出光角度以做为检测用补光灯的检测光源结构与检测光源装置,本实用新型检测光源装置包括基座与检测光源结构,检测光源结构包括固定支架、基板、罩体与扣合件;借此,本实用新型借由结合具有倾斜夹角的固定支架与设置有发光体的基板的硬件设计,有效将基板固定于固定支架上,并于发光体外部罩设光线进入可聚光并出可聚焦的壳体,有效依据检测需求而调整光线角度,并聚焦至特定位置而做为检测的补光灯,确实达到依据需求而调整出光角度,以及有效增加检测成功率等优势。
  • 检测光源结构装置
  • [实用新型]光源检测装置及光源-CN202222304099.7有效
  • 陈通;龙景卫;罗鑫;廖勇;林睿 - 苏州灵猴机器人有限公司
  • 2022-08-31 - 2022-12-06 - G01M11/00
  • 本实用新型属于光源检测的技术领域,公开了一种光源检测装置及光源光源检测装置包括:安装板、电路板以及检测件。安装板用于与灯罩相连接。电路板设置在安装板上且电路板部分地与灯罩内的灯珠相对应。检测件设置在电路板与灯珠对应的一侧,检测件用于检测灯珠的亮度和上述灯珠产生光线的能量值。通过在灯罩上设置安装板,以便于将电路板和检测件固定在灯罩上,从而在灯罩内的灯珠开启后,检测件就能够检测灯珠的亮度和灯珠所产生光线的能量,从而精确判断光线产生的能量是否满足作业的要求,当不符合作业要求时,
  • 光源检测装置
  • [实用新型]一种多光源检测机构-CN202222777119.2有效
  • 张立;刘颖;顼文佳;王传令;凌家盛 - 广州超音速自动化科技股份有限公司
  • 2022-10-20 - 2023-04-28 - G01N21/88
  • 本实用新型属于检测设备技术领域,具体涉及一种多光源检测机构。本检测机构包括支架、检测组件和光源组件,检测组件安装于支架上,检测组件用于对电芯进行拍照检测光源组件位于检测组件的下方,光源组件包括同轴光源、圆顶光源和面光源检测组件、同轴光源、圆顶光源和面光源同轴设置当对锂电池的焊缝和瑕疵进行拍照时,由于同轴光源、圆顶光源和面光源同轴设置,拍照时可以选择任意一种光源或多种光源组合,保证对锂电池拍照时光线充足,保证通过不同光照下拍摄不同的检测影像,再通过多图像的对比、合成、去噪,得到精准的检测结果,保证了锂电池缺陷检测准确性。
  • 一种光源检测机构
  • [发明专利]应用多光源的组合式检测系统及采用该系统的检测方法-CN202110131632.1有效
  • 李燮 - 苏州科洛尼自动化有限公司
  • 2021-01-30 - 2023-01-03 - G01N21/95
  • 本申请涉及一种应用多光源的组合式检测系统及采用该系统的检测方法;应用多光源的组合式检测系统,包括相机、高角度光源、均匀场光源、低角度光源以及背光源;相机设置于背光源的上方;高角度光源和低角度光源设置于相机和背光源之间,且高角度光源位于低角度光源的上方,均匀场光源具有均匀的光场,并设置于相机和背光源之间。采用上述系统的检测方法,包括采用背光源、高角度光源、均匀场光源以及低角度光源分步对线圈等被检测物进行检测。本申请通过各个光源的配合能使相机所拍摄的照片更加清晰而全面的将被检测物的细节反映出来;提高了检测的全面性和准确性,从而提高了对被检测物的检测效果。
  • 应用光源组合式检测系统采用方法
  • [发明专利]检测机构及相应的IC芯片检测装置-CN202210541448.9在审
  • 刘世洪 - 深圳市华力宇电子科技有限公司
  • 2020-11-30 - 2022-08-30 - B07C5/02
  • 本分案申请提供一种检测机构及相应的I C芯片检测装置,检测机构设置在斜板上用于对上料机构运输过来的I C芯片进行检测检测机构包括检测轨道、引脚光源、字符光源、背光源、视觉检测支架、摄像头和检测台,检测轨道设置在斜板上,引脚光源连接字符光源,且位于检测轨道上方,背光源设置在检测轨道下方,字符光源用于检测I C芯片字符时发光,引脚光源和背光源用于检测I C芯片引脚时发光。引脚光源和背光源用于检测I C芯片引脚时发光,摄像头用于摄像检测检测轨道用于固定I C芯片接受检测,通过拍照检测,提高I C检测装置检测芯片字符及引脚效果,避免漏检错检。
  • 检测机构相应ic芯片装置
  • [发明专利]美容镜-CN202110376041.0在审
  • 王念欧;郦轲;廖炜;班晋;陈新余 - 深圳市宗匠科技有限公司
  • 2021-04-07 - 2021-06-01 - A47G1/02
  • 本申请实施例提供一种美容镜,包括主体、化妆灯及镜面,镜面及化妆灯设置在主体上,美容镜还包括设置在主体上的检测光源检测光源包括第一检测光源、第二检测光源、第三检测光源及第四检测光源中至少一种,第一检测光源为波长390~450nm之间的某一单色光源,第二检测光源为波长320~400nm之间的某一单色光源,第三检测光源为波长480~610nm之间的某一单色光源,第四检测光源为白光光源。本申请通过在美容镜上集护肤化妆与面部检测为一体,检测光源中提供可检测出面部的多种光,适合家用,有效为用户节省了化妆台上的时间和空间。
  • 美容
  • [实用新型]美容镜-CN202120707262.7有效
  • 王念欧;郦轲;廖炜;班晋;陈新余 - 深圳市宗匠科技有限公司
  • 2021-04-07 - 2021-12-17 - A47G1/02
  • 本申请实施例提供一种美容镜,包括主体、化妆灯及镜面,镜面及化妆灯设置在主体上,美容镜还包括设置在主体上的检测光源检测光源包括第一检测光源、第二检测光源、第三检测光源及第四检测光源中至少一种,第一检测光源为波长390~450nm之间的某一单色光源,第二检测光源为波长320~400nm之间的某一单色光源,第三检测光源为波长480~610nm之间的某一单色光源,第四检测光源为白光光源。本申请通过在美容镜上集护肤化妆与面部检测为一体,检测光源中提供可检测出面部的多种光,适合家用,有效为用户节省了化妆台上的时间和空间。
  • 美容
  • [实用新型]一种组合条形光源及包含该组合条形光源的机械手-CN202122628662.1有效
  • 周杰 - 广东奥普特科技股份有限公司
  • 2021-10-29 - 2022-04-19 - G01N21/84
  • 本实用新型公开了一种组合条形光源及包含该组合条形光源的机械手,组合条形光源包括安装板,安装板的一侧安装有至少两种检测光源,不同检测光源用于提供不同的灯光以辅助不同的检测,至少两种检测光源分别连接有用于控制光源亮灭的开关机械手包括机械手主体和上述组合条形光源,组合条形光源的安装板连接机械手主体。本实用新型集成有至少两种检测光源,在应用于半导体元件检测场景下,一种检测光源用于溢胶检测,还有一种检测光源用于缺陷检测和焊锡不良检测等,无需分别设置各检测光源,可以降低光源成本和使用成本。并且,光源能够跟随机械手主体同步运动,无需将半导体元件移动至检测工位,即可进行各项检测,提高了检测效率。
  • 一种组合条形光源包含机械手
  • [发明专利]光学检测-CN201610853328.7有效
  • 詹凱劭;赖美丞;林政宽;薛名凱 - 致茂电子股份有限公司
  • 2016-09-27 - 2019-01-29 - H02S50/15
  • 一种光学检测机包含一架体及一光源。架体具有一光源设置空间、一待测物设置空间及一检测口。光源设置空间位于待测物设置空间上方,且光源设置空间通过检测口连通待测物设置空间。光源可滑动地位于光源设置空间,且光源的滑动方向非平行于检测口的中心轴线,以令光源具有一检测位置及一清除位置。当光源位于检测位置时,光源遮盖检测口。当光源位于清除位置时,光源相对偏离检测口的中心轴线而显露出至部分部检测口。
  • 光学检测
  • [实用新型]一种用于产品检测光源装置-CN202220161364.8有效
  • 孙昌泼;王治玺 - 信利光电股份有限公司
  • 2022-01-20 - 2022-08-02 - G01B11/24
  • 本实用新型实施例公开了一种用于产品检测光源装置,包括:同轴光源,同轴光源用于照射待检测产品的光滑平整表面;背光源,背光源用于照射待检测产品的外形轮廓;同轴光源位于待检测产品的上方,背光源位于待检测产品的下方;拍摄装置,拍摄装置位于同轴光源的上方。本实用新型实施例的用于产品检测光源装置,通过将同轴光源设于待检测产品的上方,背光源设于待检测产品的下方的设计,使得一种光源装置实现了多种检测内容的目的。
  • 一种用于产品检测光源装置
  • [实用新型]IC芯片检测装置的检测机构-CN202022842441.X有效
  • 刘世洪 - 深圳市华力宇电子科技有限公司
  • 2020-11-30 - 2021-06-22 - G01N21/956
  • 本实用新型提供一种IC芯片检测装置的检测机构,其包括机台、视觉检测支架、摄像头、特制光源检测台和背光源,机台包括顶部的顶板和侧面的斜板,视觉检测支架连接在斜板上,包括光源支架固定座和摄像头固定座,摄像头固定座位于光源支架固定座上方,摄像头连接在摄像头固定座上,用于摄像检测,特制光源连接在光源支架固定座上,包括引脚光源和字符光源,用于发出光方便摄像检测检测台设置在斜板上,靠近视觉检测支架,用于固定IC芯片接受检测,背光源设置在检测台下方,用于发出光方便摄像检测。本实用新型的IC芯片检测装置的检测机构检测字符时字符光源单独使用,检测引脚时引脚光源和背光源一起使用,检测效果更好。
  • ic芯片检测装置机构
  • [实用新型]颗粒产品缺陷检测检测设备-CN202122334178.8有效
  • 郭嘉琦;王海宁;赵广旭 - 北京大恒图像视觉有限公司
  • 2021-09-26 - 2022-03-01 - G01N15/00
  • 本申请公开了颗粒产品缺陷检测检测设备,该检测设备的检测箱体中设置有安装背板,安装背板上设置有传送装置,传送装置的下方还设置有球积分光源检测装置,检测设备还包括:光源支撑架,辅助检测光源检测相机;光源支撑架设置于球积分光源检测装置的右侧,光源支撑架的安装端固定安装在安装背板上;辅助检测光源安装于光源支撑架的支撑端,辅助检测光源位于传送装置的下方;检测相机安装于安装背板上,检测相机设置于辅助检测光源的下方。通过本申请中的技术方案,解决了因球积分光源打光均匀导致部分类型的片剂缺陷无法检测的问题,提高了药片检测的全面性和准确性。
  • 颗粒产品缺陷检测设备

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